Позитронно-аннигиляционная спектроскопия (ПАС) - метод, предназначенный для обнаружения дефектов, таких как вакансии, их кластеры, пустоты, дислокации и т. д. Этот метод представляет большой интерес в связи с практическим характером получаемых результатов. Он успешно применяется в физике твердого тела и прикладной физике, кристаллографии, химии, материаловедении и инженерии поверхности.